203 José A Fernández Alfaro Éxitos y fracasos de la aplicación de la Reforma... Las bajas se producen principalmente por los combates, por expulsión o por abandono voluntario del ejército. • Entre febrero de 2013 y febrero de 2014, 43.887 afganos fueron expulsados, y • Entre marzo 2012 y febrero 2014, murieron 2.166 militares, y fueron heridos 11.804, durante acciones de combate.37 El abandono en el ANA se produce, entre otros motivos: bajos salarios, alejamiento de la familia, presiones a la familia por parte de milicias locales, no aceptar órdenes de mandos de otras etnias, rechazo de la estructura gubernamental, etc. Si el desgaste por los motivos ya expresados es importante, el exigente proceso de reclutamiento afecta de forma notable al volumen de efectivos que ingresa en las ANSF, y por tanto al volumen totas de las mismas. El reclutamiento debe seguir siendo exigente, de tal manera que se evite, por una parte, que no sean aceptadas personas que, por su situación antes de ingresar en las ANSF, y una vez adquirido un empleo militar, puedan crear milicias internas dentro del ANA o que adquieran un liderazgo que no se corresponda con el empleo (rango militar) obtenido durante la formación. Por otra parte, se trata de limitar el acceso a personal afgano que pueda ocasionar incidentes internos al ANA o a las fuerzas militares de la Comunidad Internacional. Han sido muy numerosas las bajas producidas por el fenómeno denominado “green on blue”, en el cual un militar afgano atenta contra los mandos y tropa del ANA o de las militares internacionales, una vez reclutado. El exigente proceso que sigue la OTAN durante el reclutamiento tiene los siguientes 8 pasos: 1. Identificación inicial. 2. Dos personas garantizan / confirman quien es el futuro recluta. 3. Verificación de la información proporcionada. 4. Comprobación criminal del sujeto. 5. Verificación de la documentación personal. 6. Revisión médica. 7. Revisión de drogas. 8. Toma de datos biométricos (iris, huellas dactilares, peso, altura, edad). 37 www.sigar.mil/pdf/quaterlyreports/2014-04-30qr.pdf. p.97.
REVISTA IEEE 4
To see the actual publication please follow the link above